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Republic of Korea
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Testing equipment
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商品详情

Intekplus成立于1995年,总部设立在韩国大田市,在中国、美国、日本等地均设有分部。2011年在韩国证券交易所上市。公司自成立以来一直专注于半导体封装测试、液晶面板及显示器、FC-BGA,FC-CSP, IC载板制造等领域的2D和3D 外观视觉检测系统的研究及开发,致力于研发出更高效更全面的外观视觉检测设备,为全球更多的用户服务。

2003年运用了MOIRE技术开发了无接触3D检测模组,继而又于2003年开发了全自动半导体外观检测设备(iPIS系列),2009年开发了太阳能及LED产品的外观检测设备,2011年液晶面板及显示器检测模组也开发完成,2017年开发完成了汽车、电池领域的自动化系统检测设备,随着半导体产业的日新月异,2019年运用于先进封装形式的Ipis-340HX研发成功。成立的26年来,只专注于研发外观视觉检测设备,力求以更精准、更高效的设备服务于全球的用户

参数名称数值范围
可检测产品类型SIP,QFN,QFP,BGA,FCBGA,CSP,SD CARD
可检测产品尺寸3x3mm - 110x110mm
最大产能80K
光源11组RGB光源
解析度10-18微米
检测能力背面2D+3D, 正面2D
检测方式产品直接放置于托盘中检测
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