SUMEC TOUCH WORLD

台面 非接触式 薄膜电阻表
模型数据表：20J3 传感器和 873 接口模块

涡流技术的优点
• 无损
• 通过绝缘层读取
• 测量移动材料
• 几乎瞬时读数
• 提供实时工序检查

降低产品和人工成本
• 自动化测试——不再需要手动探测
• 无损检测 100% 材料
• 发生涂层问题时立即解决
• 避免进一步处理超出规格的材料

此配置特色
• 测量薄膜电导率、薄膜电阻、厚度（已知电阻系数）和电阻率（已知厚度）
• 简易单按钮操作
• 通过 LCD、软件、浏览器或 PC 应用程序进行读取
• 交换其他类型和范围的传感器
• 通过一个接口模块和软件一次使用最多12 个传感器
• 软件包括自动采样检测、读取、记录、手动映射、合格/不合格以及. csv 文件和 Microsoft Excel 的导出
• 通过 Modbus 和基于网络的应用程序远程读取并控制传感器
• 单点式、分离式、卡尺式传感器
• 占用内存少
• 校准计量器不到一分钟即可完成
• 温度漂移自动补偿

规格
材料接触范围：20 cm
传感器间隙：3 mm
最小样本尺寸：3 cm 直径圆
空间分辨率：3 cm 直径圆
响应率：40 ms

用途——设计用于玻璃、晶片、胶片等，其中包括：
• 触摸屏、平板屏、ITO、TCO 等。
• 碳纳米管、石墨烯、银纳米线等。
• 半导体材料
• 光伏材料
• 建筑玻璃（低辐射）、智能玻璃
• OLED 和 LED 应用
• 包装、装饰膜/纸、金属标签、微波感应器、反光材料
• 挠性电路和柔性电路板
• 金属电容器箔
• 低观测量
• 电池和燃料电池
• 除冰和加热产品
• 天线
• 防静电膜

计量范围——Delcom 计量器可在四个范围之一使用。
×10      5 至 10 万欧姆/平方
×1       0.5 至 1 万欧姆/平方
÷10     0.05 至 1 千欧姆/平方
÷100   0.005 至 100 欧姆/平方

精确度——与美国国家标准技术研究所 (NIST: National Institute of Standards and Technology) 的标准相比，Delcom 计量器校准后精确度达到 99.9% 以上 。 用户在一分钟内可采用一个标准校准一个计量器。
分辨率——在所有四个计量器范围的各个数量级都有可用的有效数字

线性——Delcom 可保证被测试材料的实际薄膜电阻值偏差不超过 3%。以下图表所展示的是根据 10 NIST、VLSI 和 MSA 标准测试的 Delcom 计量器。

可重复性——如果采样位置和环境因素（比如，温度）保持不变，则 Delcom 计量器读数有效可重复率可达到 99.9%。
温度补偿——涡流仪器的基线读数随环境温度的变化而漂移。Delcom 台式传感器可获得温度补偿，因此它们的漂移量不会超过每小时每摄氏度总分辨率的 0.04%。
仰角对读取的影响——传感器间隙中导电层的仰角可影响计量器读数。这种影响可在使用仪器台过程中、自动进行距离探测器补偿，或者在已知材料仰角校准计量器时发生。

系统要求
电源输入：100–120/200–250 VAC
频率：60/50 Hz
功耗：1.0/0.5 A
温度范围：10°C–60°C

尺寸和重量
20J3 传感器：33 × 5 × 5 cm, 1 kg
20J3 仪器台：55 × 47 × 8 cm, 10 kg
873 接口模块：22 × 18 × 10 cm, 2 kg
20J3 仪器台可供运输包装：61 × 61 × 16 cm, 13 kg
20J3 和 873 可供运输包装：46 × 41 × 21 cm, 9 kg

20J3 仪器台——可选仪器台，用于精确采样控制。

DELCOM 软件——可选软件包括为普通用户应用程序优化的五种不同模式。

从 1985 年至今，Delcom 发展成为真空镀膜机和卷对卷薄膜制造领域非接触式电阻测试仪的最大供应商，也是美国第二大高精度涡流仪器制造商。

Delcom通过涡流技术，非接触、无损测量静态或动态的导电材料物体的方阻。Delcom能做到瞬时读数,提供实时工序检查。测量方阻的范围从0.005到10万欧姆/平方（具体的测试范围需要提前商定）。

岱美有限公司成立于1989年，是半导体，数据存储，光学，光伏和航空航天行业领先制造商和创新研发机构的先进设备分销商。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，并让客户及时了解我们不断积累的行业最新经验。