1 / 1
Frequency Measuring Instrument(Wafer Prober)

Price:
price negotiable
Brand Name:
PFA Country Region:
JapanModel No:
PTFM-10,PWM-10


PFA 

Country: Japan
Main Products: Crystal oscillation manufacturing equipment
View more
Price:
price negotiable
Brand Name:
PFA Country Region:
JapanModel No:
PTFM-10,PWM-10


PFA 

Japan
Main Products:
Crystal oscillation manufacturing equipment

Product information
- 测量Wafer上形成的音叉型晶体振子或 AT型 晶体振子频率的设备。
- Wafer供应、测量大气中的频率和收纳Wafer都是全自动的。
- 设备类型:PTFM-10是使用PFA的测定系统来测定音叉型晶体振子的频率。
设备类型:PWM-10是使用网络分析仪测量 AT型晶体振子的频率和 CI 值。 - 可通过同时探测多个产品进行高速处理。
- 通过装载机/卸载机实现自动运输功能。
- 探头附有自动清洁性能。
基本规格
项目 | 内容 | 内容 |
---|---|---|
型号 | PTFM-10 | PWM-10 |
目标工件 | 音叉型晶体振子Wafer(可通过更换专用零件进行机型变更。 ) | AT型晶体振子Wafer(可通过更换专用零件进行机型变更。) |
目标工件尺寸 | 最大4英寸Wafer | 最大4英寸Wafer |
同时测定数量 | 同时探测次数:最多 80 个晶片 | 同时探测次数:最多 20 个晶片 |
材料供应 | 装载机:从收纳盒中供应Wafer、 卸载机:将Wafer收至收纳盒 | 装载机:从收纳盒中供应子托盘、 卸载机:将子托盘收到收纳盒 |
外型尺寸 | W1000×D1500×H1750㎜(不包括高效滤网、操作电脑、旋转信号灯等突起物) | W1050×D1540×H1800㎜(不包括高效滤网、旋转信号灯等突起物) |
选项 | 可将同时探测晶片数增加到81个以上160个以下 通过替换专用夹具对应多个品种 | 通过替换专用夹具对应多个品种 |
※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。
All products in the store
Flip-Chip Bonder for Small-sized Device

Thermal Inspection Equipment for Pressure Sensors

High speed Blank Mounter for Crystal Blank

Indentation Inspection Equipment(AOI)

Ultrasonic Bump Bonder

MEMS Sensor-Element Assembly Equipment


You May Like


冷热台

FalconWave®-S High Resolution Product

DENBA HEALTH

Thin film laser flash thermal conductivity meter+laser thermal conductivity meter

Test platform for electro-optical parameters of focal plane detector
![[Second-hand] laser](https://cdn.sumecdtx.com/equipment/20230818/928f9346aceb42e3b60670c380399f59.jpg)
[Second-hand] laser

德国Mahr原装进口轮廓仪MarSurf XC 2轮廓仪

Adcole OptiShaft Measuring Machine

LuphoScan 50SL高速非接触式3D非球面光学面形测量系统

HyTron