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Frequency Measuring Instrument(Wafer Prober)
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Japan
Main Products:
Crystal oscillation manufacturing equipment
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Product information

  • 测量Wafer上形成的音叉型晶体振子或 AT型 晶体振子频率的设备。
  • Wafer供应、测量大气中的频率和收纳Wafer都是全自动的。
  • 设备类型:PTFM-10是使用PFA的测定系统来测定音叉型晶体振子的频率。 
    设备类型:PWM-10是使用网络分析仪测量 AT型晶体振子的频率和 CI 值。
  • 可通过同时探测多个产品进行高速处理。
  • 通过装载机/卸载机实现自动运输功能。
  • 探头附有自动清洁性能。

基本规格

项目内容内容
型号PTFM-10PWM-10
目标工件音叉型晶体振子Wafer(可通过更换专用零件进行机型变更。 )AT型晶体振子Wafer(可通过更换专用零件进行机型变更。)
目标工件尺寸最大4英寸Wafer最大4英寸Wafer
同时测定数量同时探测次数:最多 80 个晶片同时探测次数:最多 20 个晶片
材料供应 装载机:从收纳盒中供应Wafer、 卸载机:将Wafer收至收纳盒装载机:从收纳盒中供应子托盘、 卸载机:将子托盘收到收纳盒
外型尺寸W1000×D1500×H1750㎜(不包括高效滤网、操作电脑、旋转信号灯等突起物)W1050×D1540×H1800㎜(不包括高效滤网、旋转信号灯等突起物)
选项可将同时探测晶片数增加到81个以上160个以下 
通过替换专用夹具对应多个品种
通过替换专用夹具对应多个品种

※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。

 

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