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Gloss-leak Inspection Equipment
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Japan
Main Products:
Crystal oscillation manufacturing equipment
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Product information

  • 用于检测 SMD 水晶晶振的粗漏检查设备。
  • 获得专利的检测方法即使在尺寸小于 1612 的小型 SMD 水晶晶振中也能实现稳定的粗漏检测。
  • 此外,节拍:实现速度高达到 0.5 秒的小型设备。
  • 通过测量SMD 型水晶晶振的常压和加压时的 CI 值变化量来检测泄漏否与否,因此,还可以对应在空气粗漏测试设备中难以检测的小型SMD水晶晶振。
  • PFA 独特的 CI 值测量系统可实现快速、稳定的 CI 值测量。
  • 0.5秒的节拍时间、从而实现高速化的小型设备。

基本规格

项目内容
目标工件SMD型水晶晶振
目标工件尺寸3.2×2.5~1.0×0.8(㎜) 
CI测量PFA制造CI値测量系统
检测泄漏范围              5×10-6 Pa・m3/s 以上粗漏范围
供应工件方式材料递进器
收纳工件方式收纳盒
循环时间约0.5秒/个(于最佳条件时)
外形尺寸标准规格:W1100×D800×H1500㎜(不包括旋转信号灯等突起)                 
选项替换零件可对应多个尺寸的品种(SMD型石英振荡器)

※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。

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