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Temperature Test Equipment for DIP-Inspection
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Japan
Main Products:
Crystal oscillation manufacturing equipment
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Product information

  • 本设备采用珀耳帖元件进行温度控制,通过将SMD型水晶晶振放置在由珀尔帖元件调节的温度板上,可以进行高精度的温度特性测试。 此外,通过在 -30 至 +85°C 的温度中将温度控制在 每度0.5°C的 范围内,可以对温度特性进行精确的 DIP 检测。
  • 藉由同时测试多个工件,从而实现高生产率。
  • 装料机和卸料机可全自动执行从供应到分类和存储的整个操作。
  • 是开发、质量保证、打样和小批量生产的理想温度检测设备。

  基本规格

项目内容
目标工件SMD型水晶晶振 ※可选择是否对应SMD型石英振荡器
目标工件尺寸5.0×3.2~1.6×1.2(㎜) ※详细工件尺寸请咨询
温度范围-30℃~+85℃ ※详细温度范围请咨询
温度调整时间(概略)       +25℃ ⇒ -30℃:约5分钟、 -30℃ ⇒ +85℃:约10分钟、 +85℃ ⇒ +25℃:约5分钟            
探针块探针款式:2款(温度调节板1、温度调节板2:各1款)
测量器频率计数器+电源
温度控制方式Peltier元件+冷却水循环设备
温度调节板約有80个排列的专用托盘
供应工件方式从堆叠的托盘中供应并转移到温度调节板(专用托盘)
外型尺寸主体:W1200×D800×H1500㎜(不包括测量器、旋转灯等突起物) 
冷却机组:W340×D384×H851㎜×4款(用于温度调节板)
选项可对应SMD型水晶晶振、通过切换零件可对应多个尺寸的品种

※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。

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