Sumec menuSumec menu

SUMEC TOUCH WORLD

Global Trading Service Platform for Machinery

search Search
Image
中文
Image
+86 25-84532303
Image
sunyuchen@sumec.com.cn
1 / 3
T3Ster
iconicon
Post RequirementsPost Requirements
Siemens
Siemens icon
View more
Post RequirementsPost Requirements
Siemens
Siemens icon
Germany
Main Products:
MicRed Power Teste T3Ster Flotherm/FloEFD Moldex3D
icon

商品详情

什么是T3Ster

T3Ster ® [发音:tri-ster]  --- the Thermal Transient Tester:热瞬态测试仪,是半导体热特性热测试仪器,可用于测试半导体分立器件及模块的结温、稳态热阻、瞬态热阻,同时可用于测试IC、SoC、SIP、 散热器、热管等的热特性。

 

• T3Ster兼具JESD51-1定义的静态测试法(Static Mode)与动态测试法(Dynamic Mode),能够实时采集器件 瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),瞬态采样时间分辨率高达1微秒,测试延迟时间高达1微 秒,结温分辨率高达0.006℃。


•T3Ster既能测试稳态热阻,也能测试瞬态热阻抗,并且能够获得器件的脉冲热阻。

 

•T3Ster的研发者 MicRed是J EDEC最新的结壳热阻(θjc)测试标准(JESD51-14)的制定者,T3Ster的测试 方法完全符合该标准,可以通过两种方法计算结壳热阻。

 

• T3Ster的测试方法符合IEC 60747系列标准。
 

• T3Ster的研发者MicRed制定了全球第一个用于测试LED的国际标准JESD51-51,以及LED光热一体化的测 试标准JESD51-52。T3Ster和TeraLED是目前全球唯一满足此标准所规定的光热一体化测试要求的设备。

 

• T3Ster的测试方法符合MIL-STD-883H method 1012.1和MIL-750E 3100系列的要求。
 

• T3Ster独创的Structure Function(结构函数)分析法,能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能(热 阻和热容参数),构建器件等效热学模型,是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强 大支持工具。因此被誉为热测试中的“X    射线”。

• T3Ster能与FloTHERM、FloTHERMxt以及FloEFD等热仿真软件协同工作,包括: 1)、将待测器件的RC网络模型直接输出给热仿真软件进行仿真工作; 2)、将待测器件的结构函数直接输出给热仿真软件,利用热仿真软件的自动优化功能对待测器件的详 细热学模型进行校准。

All products in the store
MicRed Power TesterAll products in the store
T3SterAll products in the store
Flotherm/FloEFDAll products in the store
Moldex3DAll products in the store