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QZW1 microscope
Price：
price negotiable
Brand Name：
HITECCountry Region：
GermanyModel No：
QZW1
Post Requirements
HITEC 
Country： Germany
Main Products： Optical measurement technique
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Price：
price negotiable
Brand Name：
HITECCountry Region：
GermanyModel No：
QZW1
Post RequirementsHITEC 
Germany
Main Products：
Optical measurement technique
Product information
QZW1 系列可帮助您对所有材料的复杂工件进行高精度、可重复的测量。凭借多种选项,如变焦镜头、多种Z轴长度和多种测量台尺寸，QZW1可满足您的特定部分测量要求。对于广泛的系列测量和更大的操作员独立性，您也可以CNC 变量可用。
在我们的Download Portal您可以下载我们的目录光学测量技术。
软件
连接的 M3 软件可在瞬间完成所有可能的几何测量。
最佳 Fit 功能
收集相关测量点,并尽可能适合规定的公差带。可以将具有不同公差范围的多个配置文件集成到一个测量流程中。
调整业务
定位 Profile 工具并按下 Fit 按钮并执行调整操作。根据需要执行尽可能多的调整操作,以获得最佳结果。
Profile 比较工具栏
调整参数可以使用 Profileess 工具栏进行调整。合适的控件包括 X/Y 平移和旋转的独立拟合条件、Fit 点密度、Fit 算法类型和 Fit 点过滤。
Profile 调整结果
使用直观的工具轻松分析配置文件拟合结果:快速检测和读取与配置文件公差相关的最差点、最佳点或指定点数。
测量模块
该模块允许测量螺纹,只需点击一下。公称直径、芯直径、翼直径、螺纹厚度以及螺纹尖端和螺纹尖端值的次要系数被输出。
容忍度
差异视图显示要容忍的每个系数的数值和图形结果。数值表示给定系数的实际偏差。
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QZW1 microscope
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