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TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子東轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率(可达到100%)，只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括半导体，聚合物，涂料，涂层，玻璃，纸张，金属，陶瓷，生物材料，药品和有机组织领域。

功能和技术细节
M6是IONTOF开发的最新一代高端TOF-SIMS仪器。其设计保证了SIMS应用所有领域的卓越性能。开创性的离子束和质量分析器技术使M6成为SIMS仪器的基准和工业及学术研究的理想工具。
1.纳米探针50具有高横向分辨率（50纳米）
2.质量分辨率30000
3.独特的延迟提取模式，可同时实现高横向和高质量分辨率的高传输
4.无与伦比的动态范围和检测极限
5.用于分子结构解析的飞行时间质谱/质谱
6.灵活的按钮式闭环样品加热和冷却系统，无需用户干预即可长期运行
7.复杂的SurfaceLab 7软件，包括完全集成的多元统计分析（MVSA）软件包

IONTOF是一家创新的表面分析仪器制造商，拥有飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）和高灵敏度低能离子散射（LEIS）的不同产品线。

IONTOF是作为明斯特大学的一个经典分支机构成立的，同时也成为TOF-SIMS和莱斯仪器领域的技术领导者。

该公司由Alfred Benninghoven教授、Ewald Niehuis博士和Thomas Heller先生于1989年创立，旨在将德国明斯特大学Benninghoven教授及其团队自20世纪80年代初开展的原创研究商业化。自该技术在商业上可行以来，IONTOF已对产品进行了多项改进，全球工业和学术实验室使用的仪器超过350台。

如今，IONTOF集团由四家不同的公司组成。IONTOF GmbH销售、生产和维修所有IONTOF分析仪器。负责所有R&D项目的IONTOF技术有限公司。在美国（成立于2000年）和日本（成立于2022年）为销售和售后服务而成立的美国和日本子公司。

德国IONTOF世界领先的专门研究 TOF-SIMS 技术和生产制造TOF-SIMS仪器的高科技公司。依托明斯特大学(UniofMünster)物理研究所，其创始人贝宁豪文(Beninghoven)教授是静态二次离子质谱的莫基人，创建并长期担任国际二次离子质谱学会议主席。

IONTOF 科学家资深的SIMS 经验和技能，IONTOF工程师出色的售后服务，对技术和客户需求的深刻理解，以及致力于提供最优质，最高效的产品来满足用户需求的奉献精神是IONTOF成功的基石。

2019年10月，公司推出了最新一代的M6型TOF-SIMS 仪器，代表着当前国际上同类仪器的领先水平。