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三代半导体晶圆几何形貌量测设备
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主营产品:
半导体量检测设备
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商品详情

三代半导体晶圆表面翘曲度和应力量测设备(WGT-V)

晶圆几何量测设备在晶圆制造中扮演着关键的角色,其作用不仅限于测量晶圆的几何参数,更在于确保整个制造过程的质量和可靠性。首先,晶圆制造是一个高度精密的工艺,任何微小的几何偏差都可能导致后续芯片制造中的问题,如电路连接失效或性能下降。因此,通过准确测量晶圆的直径、厚度、平整度等参数,制造商可以及早发现潜在问题,并及时进行纠正,以确保最终产品的质量和性能。

质量控制在晶圆制造中尤为重要,因为晶圆作为芯片制造的基础材料,其质量直接影响着芯片的性能和可靠性。通过使用晶圆几何量测设备,制造商可以有效监控制造过程中的各个环节,减少生产中可能出现的偏差和缺陷,降低废品率,提高生产效率。

主要特点和优势:

广泛应用:适用于晶圆制造、晶圆级封装和半导体工艺设备研发制造领域,满足不同工艺生产线的需求;
双面形貌及厚度测量:采用两个光谱共聚焦位移传感器对置,实现对晶圆双面形貌及厚度的高精度测量;
高精度位移测量:光谱共焦技术实现了高精度位移测量,保证了测量结果的准确性和可靠性;
双面及厚度精确测量:对置的传感器产生双面及厚度的精确测量,提供了全面的形貌和厚度信息;
多根线测量:设定打线角度,可同时测量多根线,提高了测量效率和数据采集速度;
高密度数据点:设备具有高密度的数据点,横向分辨率高达200μm,提供了更为精细的表面形貌和厚度分布图;
先进算法:先进的算法可预测抛光后的NT map,使用户能够提前了解抛光后的晶圆表面情况,为后续工艺提供参考;
不受金属掺杂影响:设备在测量过程中不受金属掺杂影响,可准确测量各种类型的晶圆。

该产品以其高精度、高效率和可定制性,成为晶圆制造和半导体工艺领域的理想选择,为用户提供了可靠的质量保障和生产效率的提升。
 

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