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X系列半自动探针台
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中国
主营产品:
探针台(手动探针台、半自动探针台、全自动探针台)
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商品详情

概述

X系列是一款集成了电学、光波、微波等测试功能的半自动探针台,专业应对6寸/8寸/12寸Wafer (向下兼容)Si,GaN,SiC等各类材质的先进芯片的性能测试。可对晶圆、MEMS、生物结构、光电器件以及其他集成电路、LED、LCD、太阳能电池等进行7*24全天候在片探测,并可加载温控系统,满足客户于高低温环境下的各种性能测试要求。

产品亮点

运行速度可达70mm/s,测试效率提升40%以上

-60℃~300℃宽泛测试温宽区

先进的多倍率光学显示系统,高精度测量与动态监控,点针更便捷操作

7*24小时全天候在片探测

自主研发软件集成系统,兼容性更强

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X系列半自动探针台店铺所有产品
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